CNR Institutional Research Information System

TEM, SEM and AFM study of hydrogenated sputtered Si/Ge multilayers

Frigeri C;Nasi L
2008
2008
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
Inglese
abstract book
BIAMS 2008, 9th International Workshop on Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors
112
Sì, ma tipo non specificato
29/06 - 03/07/2008
Toledo (E)
Amorphous multilayers
SiGe
nanostructures
none
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
Frigeri, C; Serényi, M; Csik, A; Erdélyi, Z; Beke, D L; Nasi, L
275
04 Contributo in convegno::04.03 Poster in Atti di convegno
6
04.03 Poster in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/99320
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