CNR Institutional Research Information System

Dislocations in Si-Doped LEC GaAs Revisited: a Spectrum Image Cathodoluminescence Study

Frigeri C;
2009
2009
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
Inglese
13th International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors
Sì, ma tipo non specificato
13-17 Sept. 2009
Wheeling, West Virginia (USA)
GaAs
Dislocations
Impurity
Cathodoluminescence
1
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
none
274
04 Contributo in convegno::04.02 Abstract in Atti di convegno
Gonzàlez M. A.; Martinez O.; Jiménez J.; Frigeri C.; Weyher J.
04.02 Abstract in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/99322
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