CNR Institutional Research Information System

Chemical characterization of extra layers at the interfaces in MOCVD InGaP/GaAs junctions by electron beam methods

Frigeri C;Grillo V;
2010
2010
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
Inglese
Multidimensional Electrical and Chemical Characterization at the Nanometer-scale of Organic and Inorganic Semiconductors - Symposium D
Sì, ma tipo non specificato
13-17 Sept. 2010
Varsavia (PL)
InGaP/GaAs
Interface
Chemical composition
Electron beam methods
5
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
none
274
04 Contributo in convegno::04.02 Abstract in Atti di convegno
Frigeri, C; Grillo, V; Shakhmin, A A; Vinokurov, D A; Zamoryanskaya, M V
04.02 Abstract in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/99698
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