FRANZO', GIORGIA

FRANZO', GIORGIA  

Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM  

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
New generation of ultrasensitive label- free optical Si nanowire-based biosensors 1-gen-2018 Irrera, Alessia; Alessio Leonardi, Antonio; DI FRANCO, Cinzia; José Lo Faro, Maria; Palazzo, Gerardo; D'Andrea, Cristiano; Manoli, Kyriaki; Franzo, Giorgia; Musumeci, Paolo; Fazio, Barbara; Torsi, Luisa; Priolo, Francesco
Room Temperature Luminescence from Si Nanowires 1-gen-2010 Irrera, A; Artoni, P; Franzo', G; Pecora, Ef; Priolo, F
Influence of stoichiometry on the structural and optical properties of erbium silicate 1-gen-2008 R. Lo Savio ; M. Miritello ; F. Iacona ; G. Franzo ; A. M. Piro ; F. Priolo
Silicon nanocrystal nucleation as a function of the annealing temperature in SiOx films 1-gen-2003 Daldosso, N; Das, G; Dalba, G; Larcheri, S; Grisenti, R; Mariotto, G; Pavesi, L; Rocca, F; Priolo, F; Franzo', G; Irrera, A; Miritello, M; Pacifici, D; Iacona, F
Electronic power device integrated on a semiconductor material and related manufacturing process 1-gen-2002 Patti, D; Priolo, F; Privitera, V; Franzo', G
Laser device based on silicon nanostructures 1-gen-2001 Dal Negro, L; Franzo', G; Gaburro, Z; Iacona, F; Pavesi, L; Priolo, F
Si:Er:O layers grown by molecular beam epitaxy: structural, electrical and optical properties 1-gen-2001 Scalese, S; Franzo, G; Mirabella, S; Re, M; Terrasi, A; Priolo, F; Rimini, E; Carnera, A
Effect of O : Er concentration ratio on the structural, electrical, and optical properties of Si : Er : O layers grown by molecular beam epitaxy 1-gen-2000 S. Scalese; G. Franzo; S. Mirabella; M. Re; A. Terrasi; F. Priolo; E. Rimini; C. Spinella; A. Carnera