FRANZO', GIORGIA
FRANZO', GIORGIA
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
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New generation of ultrasensitive label- free optical Si nanowire-based biosensors
2018 Irrera, Alessia; Alessio Leonardi, Antonio; DI FRANCO, Cinzia; José Lo Faro, Maria; Palazzo, Gerardo; D'Andrea, Cristiano; Manoli, Kyriaki; Franzo, Giorgia; Musumeci, Paolo; Fazio, Barbara; Torsi, Luisa; Priolo, Francesco
Si:Er:O layers grown by molecular beam epitaxy: structural, electrical and optical properties
2001 Scalese, S; Franzo, G; Mirabella, S; Re, M; Terrasi, A; Priolo, F; Rimini, E; Carnera, A
Effect of O : Er concentration ratio on the structural, electrical, and optical properties of Si : Er : O layers grown by molecular beam epitaxy
2000 S. Scalese; G. Franzo; S. Mirabella; M. Re; A. Terrasi; F. Priolo; E. Rimini; C. Spinella; A. Carnera
| Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
|---|---|---|---|
| New generation of ultrasensitive label- free optical Si nanowire-based biosensors | 1-gen-2018 | Irrera, Alessia; Alessio Leonardi, Antonio; DI FRANCO, Cinzia; José Lo Faro, Maria; Palazzo, Gerardo; D'Andrea, Cristiano; Manoli, Kyriaki; Franzo, Giorgia; Musumeci, Paolo; Fazio, Barbara; Torsi, Luisa; Priolo, Francesco | |
| Si:Er:O layers grown by molecular beam epitaxy: structural, electrical and optical properties | 1-gen-2001 | Scalese, S; Franzo, G; Mirabella, S; Re, M; Terrasi, A; Priolo, F; Rimini, E; Carnera, A | |
| Effect of O : Er concentration ratio on the structural, electrical, and optical properties of Si : Er : O layers grown by molecular beam epitaxy | 1-gen-2000 | S. Scalese; G. Franzo; S. Mirabella; M. Re; A. Terrasi; F. Priolo; E. Rimini; C. Spinella; A. Carnera |