CNR Institutional Research Information System

Scanning -DLTS and TEM-investigations in LEC GaAs: new arguments on the EL2-generation mechanism

R Fornari;C Frigeri;
1990
1990
Inglese
L. D. Peachey and D. B. Williams
Proceedings of the XIIth Int. Congress for Electron Microscopy
XIIth Int. Congress for Electron Microscopy
616
Sì, ma tipo non specificato
Aug. 12-18, 1990
Seattle (USA)
GaAs
Scanning -DLTS
EL2
TEM
5
none
Breitenstein, O; Fornari, R; Frigeri, C; Gleichmann, R; Heydenreich, J
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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