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SEM-EBIC and DSL photoetching analysis of compositional inhomogeneity in LEC GaAs

Frigeri C;Zanotti L
1988
1988
Inglese
Abstract book
French-Italian-Swiss Workshop Fich-6: 'Structural and Microanalytical Characterization of Advanced Materials
12
Sì, ma tipo non specificato
13-14/04/88
Turin (Italy),
GaAs
EBIC
dopant
inhomegeneities
DSL
3
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
none
274
04 Contributo in convegno::04.02 Abstract in Atti di convegno
Frigeri, C; Weyher, J L; Zanotti, L
04.02 Abstract in Atti di convegno
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