CNR Institutional Research Information System

X-ray and HRXRD measurements and TEM observations of the lattice damage in 0.70 and 0.74 MeV Si implanted GaAs crystal

R Nipoti;C Bocchi;C Frigeri;
1995
1995
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
0 444 82194 5
GaAs
implantation
X.ray
TEM
04.01 Contributo in Atti di convegno
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