CNR Institutional Research Information System

Characterization of 3C-SiC grown on Si substrates with different conductivity

C Frigeri;G Attolini;M Bosi;B Watts
2007
2007
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
Inglese
abstract book
DRIP XII, 12th International Conference on Defects: Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors
115
Sì, ma tipo non specificato
9 - 13 sett. 2007
Berlin (D)
SIc
Si
conductivity
none
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
C. Frigeri; G. Attolini; M. Bosi; B. Watts
275
04 Contributo in convegno::04.03 Poster in Atti di convegno
4
04.03 Poster in Atti di convegno
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