CNR Institutional Research Information System

Nano-electrical characterization of praseodymium oxide on silicon by conductive atomic force microscopy (C-AFM)

R Lo Nigro;R G Toro;P Fiorenza;
2004
2004
CADRES-Workshop on Defects Relevant to Engineering Advanced Silicon-based Devices
26-28 September 2004
Santa Tecla (Catania), Italy
2
none
R. Lo Nigro; R. G. Toro; G. Malandrino; P. Fiorenza; V. Raineri;I. L. Fragalà
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/131813
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