CNR Institutional Research Information System

Relationship between interfacial defects and growth processes in GaAs/Ge heterostructures

C Pelosi;C Frigeri;
1996
1996
Abstract book
International Conference on Extended Defects in Semiconductors (EDS 96)
P.5.4
Sì, ma tipo non specificato
September 8-12, 1996
Giens (F)
GaAs/Ge
planar defects
TEM
MOVPE
X-ray
7
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
none
274
04 Contributo in convegno::04.02 Abstract in Atti di convegno
Putero, M; Burle, N; Pichaud, B; Pelosi, C; Chimenti, E; Frigeri, C; Guelton, N
04.02 Abstract in Atti di convegno
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