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X-Ray study of GaAs/Ge heterostructures: Relationship between interfacial defects and growth processes

C Pelosi;C Frigeri;
1996
1996
Inglese
Abstract book
3rd European Symposium on X-ray Topography and High Resolution Diffraction
162
Sì, ma tipo non specificato
22-24 April 1996
Palermo (I)
GaAs/Ge
planar defects
MOVPE growth
X-ray
2
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
none
274
04 Contributo in convegno::04.02 Abstract in Atti di convegno
M. Putero; N. Burle; C. Pelosi; E. Chimenti; C. Frigeri;N. Guelton
04.02 Abstract in Atti di convegno
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