CNR Institutional Research Information System

X-ray determination of lattice damage and TEM observation of MeV energy Si implanted GaAs

R Nipoti;C Bocchi;C Frigeri
1994
1994
Inglese
Abstract book
X Int. Conf. on Ion Implantation Technology, IIT 94
P-2.11
Sì, ma tipo non specificato
June 13-17,1994
Catania (I)
GaAs
Si-implanted
TEM
X-ray
3
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
none
274
04 Contributo in convegno::04.02 Abstract in Atti di convegno
Nipoti, R; Bocchi, C; Frigeri, C
04.02 Abstract in Atti di convegno
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