CNR Institutional Research Information System

Relationship between V/III ratio and formation of defects in MOCVD grown (001) GaAs/Ge heterostructures

C Frigeri;G Attolini;C Pelosi;
1993
1993
Inglese
Abstract book
DRIP 5 Conference (Defect Recognition and Image Processing for Research and Development of Semiconductors)
P-13
Sì, ma tipo non specificato
Sept. 26-10 1993
Santander (Spain)
GaAs/Ge
planar defects
TEM
MOVPE
V/III ratio
4
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
none
274
04 Contributo in convegno::04.02 Abstract in Atti di convegno
Frigeri, C; Attolini, G; Pelosi, C; Longo, F
04.02 Abstract in Atti di convegno
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