Nanoscale electrical and structural modification induced by rapid thermal oxidation of AlGaN/GaN heterostructures

P Fiorenza;Alberti;F Roccaforte
2014

2014
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Inglese
25
025201-1
025201-8
Sì, ma tipo non specificato
5
info:eu-repo/semantics/article
262
G Greco; P Fiorenza; F Giannazzo A; Alberti; F Roccaforte
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
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