CNR Institutional Research Information System

[object Object]

Ti/Al ohmic contacts on AlGaN/GaN heterostructures with different defect density

Greco G;Bongiorno C;Giannazzo F;Roccaforte F
2014

Abstract

[object Object]
2014
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Inglese
314
546
551
2-s2.0-84906693630
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-84906693630&partnerID=q2rCbXpz
Sì, ma tipo non specificato
AlGaN/GaN
Ohmic contact
Ti/Al
V-defects
4
info:eu-repo/semantics/article
262
Greco G.; Iucolano F.; Bongiorno C.; Giannazzo F.; Krysko M.; Leszczynski M.; Roccaforte F.
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
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01.01 Articolo in rivista
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