CNR Institutional Research Information System

Pressure-induced amorphous Ge 2 Sb 2 Te 5 retention investigated by in situ X-Ray Diffraction

Antonio Massimiliano Mio;Matteo Ceppatelli;Mario Santoro;Roberto Bini;Emanuele Rimini
2014
2014
Istituto di Chimica dei Composti OrganoMetallici - ICCOM -
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Istituto Nazionale di Ottica - INO
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/268556
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