CNR Institutional Research Information System

Al+ Implanted 4H-SiC p+-i-n Diodes: Evidence for Post-Implantation- Annealing Dependent Defect Activation

G Pizzochero;R Nipoti
2013
2013
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
04.03 Poster in Atti di convegno
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