CNR Institutional Research Information System

Thickness and orientation dependence of the average HAADF STEM normalized intensity: a comparison with Monte Carlo and Multislice simulations.

Andrea Parisini;Gian Carlo Gazzadi;Aldo Armigliato;Rodolfo Rosa
2017
2017
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Istituto Nanoscienze - NANO
978-953-7941-19-2
STEM HAADF
quantitative intensity measurement
QSTEM
Monte Carlo simulation
04.02 Abstract in Atti di convegno
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