CNR Institutional Research Information System

Investigation of the structural features of porous silicon multilayers by means of GISAXS measurements

Moretti L;Mocella V;De Stefano L;Rea I;Dardano P;
2006
2006
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
E-MRS 2006 Spring meeting
Sì, ma tipo non specificato
Nizza
5
none
Angeloni M; Moretti L; Mocella V; De Stefano L; Rotiroti L; Rea I; Dardano P; Ferrero C; Bernstorff S
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/436693
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