In situ investigation of capillary condensation phenomena in porous silicon nanostructured by means of GISAX and SAXS measurements

Moretti L;Mocella V;De Stefano L;Rea I;
2006

2006
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
EMRS 2006
Sì, ma tipo non specificato
Nizza
4
none
Angeloni M; Moretti L; Mocella V; De Stefano L; Rotiroti L; Rea I; Bernstorff S
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
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