CNR Institutional Research Information System

Investigation of Structural Features of Porous Silicon Multilayers by Means of GISAXS Measurements

Moretti L;Mocella V;De Stefano L;Rea I;Dardano P;
2006
2006
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
04.01 Contributo in Atti di convegno
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