CNR Institutional Research Information System

Contact resistivity and barrier height of Al/Ti ohmic contacts on p-type ion implanted 4H- and 6H-SiC

Poggi A;Cardinali GC;Nipoti R
2003
2003
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/86658
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