CNR Institutional Research Information System

Extraction of the Schottky barrier height of Ti/Al contacts on 4H-SiC from I-V and C-V measurements

Moscatelli F;Poggi A;Nipoti R
2003
2003
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/86661
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact