CNR Institutional Research Information System

Nano beam and convergent beam elecron diffraction for strain anaysis in nano-electronics

Armigliato A;Balboni R;Migliori A;Pizzochero G
2007
2007
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
04.03 Poster in Atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/86674
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact