CNR Institutional Research Information System

Correlation between current transport and defects in n+/p 6H-SiC diodes

Moscatelli F;Nipoti R;Poggi A
2005
2005
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
wide band gap semiconductors
6H-SiC
ion implanted diodes
defects
04.03 Poster in Atti di convegno
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