CNR Institutional Research Information System

Optical characterization of InAs/InGaAs QD for 1.55 µm emission

Seravalli L;Frigeri P;Franchi S
2003
2003
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
INFMeeting 2003, National Conference on Physics of Matter
Genova
none
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
Geddo M.; Bellani V.; Guizzetti G.; Patrini M.; Seravalli L.; Frigeri P.; Franchi S.
275
04 Contributo in convegno::04.03 Poster in Atti di convegno
3
04.03 Poster in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/95372
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