CNR Institutional Research Information System

Growth and Characterization of CdZnTe Crystals by the Encapsulated Vertical Bridgman Technique for X-ray Imaging

Zha M;Zappettini A;Pavesi M;Bissoli F;Zanotti L
2006
2006
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
04.03 Poster in Atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/98349
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact