Growth and Characterization of CdZnTe Crystals by the Encapsulated Vertical Bridgman Technique for X-ray Imaging

Zha M;Zappettini A;Pavesi M;Bissoli F;Zanotti L
2006

2006
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
XXXV Congresso Nazionale della AIC (Associazione Italiana di Cristallografia)
Ferrara
none
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
Zha, M; Zappettini, A; Pavesi, M; Paorici, C; Bissoli, F; Zanichelli, M; Zanotti, L
275
04 Contributo in convegno::04.03 Poster in Atti di convegno
7
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