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VIVONA, MARILENA

VIVONA, MARILENA  

Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM  

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Impact of the Schottky Barrier and Contact‐Induced Strain Variations inside the Channel on the Electrical Behavior of Monolayer MoS2 Transistors 1-gen-2025 Panasci, Salvatore Ethan; Schiliro, Emanuela; Greco, Giuseppe; Fiorenza, Patrick; Vivona, Marilena; Di Franco, Salvatore; Roccaforte, Fabrizio; Esposito, Fiorenza; Bosi, Matteo; Attolini, Giovanni; Pis, Igor; Bondino, Federica; Pedio, Maddalena; Madonia, Antonino; Cannas, Marco; Agnello, Simonpietro; Seravalli, Luca; Giannazzo, Filippo
Understanding the impact of extended crystalline defects on 4H-SiC power MOSFETs by multiscale correlative electrical, optical and thermal characterizations 1-gen-2025 Fiorenza, P.; Zignale, M.; Maira, G.; Fontana, E.; Bottari, C.; Adamo, S.; Carbone, B.; Alessandrino, M. S.; Russo, A.; Panasci, S. E.; Vivona, M.; Giannazzo, F.; Roccaforte, F.
Anomalous Electrical Behavior of 4H-SiC Schottky Diodes in Presence of Stacking Faults 1-gen-2024 Vivona, M.; Fiorenza, P.; Scuderi, V.; La Via, F.; Giannazzo, F.; Roccaforte, F.
Electrical and Structural Properties of Ohmic Contacts of SiC Diodes Fabricated on Thin Wafers 1-gen-2024 Badalà, Paolo; Bongiorno, Corrado; Fiorenza, Patrick; Bellocchi, Gabriele; Smecca, Emanuele; Vivona, Marilena; Zignale, Marco; Massimino, Maurizio; Deretzis, Ioannis; Rascunà, Simone; Frazzica, Marcello; Boscaglia, Massimo; Roccaforte, Fabrizio; La Magna, Antonino; Alberti, Alessandra
Schottky contacts on sulfurized silicon carbide (4H-SiC) surface 1-gen-2024 Roccaforte, Fabrizio; Vivona, Marilena; Panasci, Salvatore Ethan; Greco, Giuseppe; Fiorenza, Patrick; Sulyok, Attila; Koos, Antal; Pecz, Bela; Giannazzo, Filippo
Silicon Carbide: Material Growth, Device Processing, and Applications 1-gen-2024 Vivona, M.; Jennings, M.
Thermionic Field Emission in the Lifetime Estimation of p-GaN Gate HEMTs 1-gen-2024 Greco, G.; Fiorenza, P.; Giannazzo, F.; Vivona, M.; Venuto, C.; Iucolano, F.; Roccaforte, F.
Exploring UV-Laser Effects on Al-Implanted 4H-SiC 1-gen-2023 Vivona, M.; Giannazzo, F.; Bellocchi, G.; Panasci, S. E.; Agnello, S.; Badalà, P.; Bassi, A.; Bongiorno, C.; Di Franco, S.; Rascunà, S.; Roccaforte, F.
Space charge limited current in 4H-SiC Schottky diodes in the presence of stacking faults 1-gen-2023 Vivona, M.; Fiorenza, P.; Scuderi, V.; La Via, F.; Giannazzo, F.; Roccaforte, F.
Effects of Excimer Laser Irradiation on the Morphological, Structural, and Electrical Properties of Aluminum-Implanted Silicon Carbide (4H-SiC) 1-gen-2022 Vivona, M.; Giannazzo, F.; Bellocchi, G.; Panasci, S. E.; Agnello, S.; Badala, P.; Bassi, A.; Bongiorno, C.; Di Franco, S.; Rascuna, S.; Roccaforte, F.
Electrical evolution of W and WC Schottky contacts on 4H-SiC at different annealing temperatures 1-gen-2022 Vivona, M.; Bellocchi, G.; Lo Nigro, R.; Rascunà, S.; Roccaforte, F.
Materials and Processes for Schottky Contacts on Silicon Carbide 1-gen-2022 Vivona, M; Giannazzo, F; Roccaforte, F
Ni/Heavily-Doped 4H-SiC Schottky Contacts 1-gen-2022 Vivona, M.; Greco, G.; Di Franco, S.; Fiorenza, P.; Giannazzo, F.; La Magna, A.; Roccaforte, F.
Temperature and time dependent electron trapping in Al2O3 thin films onto AlGaN/GaN heterostructures 1-gen-2022 Fiorenza, Patrick; Schiliro', Emanuela; Greco, Giuseppe; Vivona, Marilena; Cannas, Marco; Giannazzo, Filippo; Lo Nigro, Raffaella; Roccaforte, Fabrizio
Barrier height tuning in Ti/4H-SiC Schottky diodes 1-gen-2021 Bellocchi, G.; Vivona, M.; Bongiorno, C.; Badalà, P.; Bassi, A.; Rascunà, S.; Roccaforte, F.
Electrical properties of inhomogeneous tungsten carbide Schottky barrier on 4H-SiC 1-gen-2021 Vivona, M; Greco, G; Bellocchi, G; Zumbo, L; Di Franco, S; Saggio, M; Rascuna, S; Roccaforte, F
Ni Schottky barrier on heavily doped phosphorous implanted 4H-SiC 1-gen-2021 Vivona, M.; Greco, G.; Spera, M.; Fiorenza, P.; Giannazzo, F.; La Magna, A.; Roccaforte, F.
Selective Doping in Silicon Carbide Power Devices 1-gen-2021 Roccaforte, Fabrizio; Fiorenza, Patrick; Vivona, Marilena; Greco, Giuseppe; Giannazzo, Filippo
Active dopant profiling and Ohmic contacts behavior in degenerate n-type implanted silicon carbide 1-gen-2020 Spera, Monia; Greco, Giuseppe; Severino, Andrea; Vivona, Marilena; Fiorenza, Patrick; Giannazzo, Filippo; Roccaforte, Fabrizio
Properties of Al2O3 thin films deposited on 4H-SiC by reactive ion sputtering 1-gen-2019 Fiorenza, P. ; Vivona, M. ; Di Franco, S. ; Smecca, E. ; Sanzaro, S. ; Alberti, A. ; Saggio, M. ; Roccaforte, F.