CNR Institutional Research Information System

Planar defects and misfit dislocations in (001) GaAs/Ge heterostructures MOCVD grown with different V/III ratio

C Frigeri;G Attolini;C Pelosi;A Armigliato
1993
1993
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
Inglese
H.G. Grimmeiss, M. Kittler and H. Richter
Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology
5th Int. Autumn Meeting on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology: GADEST 93
32-33
397
402
3-908450-00-4
TRANS TECH-SCITEC PUBLICATIONS LTD
UETIKON
SVIZZERA
Sì, ma tipo non specificato
Oct. 9-14, 1993
Chossewitz (D)
GaAs/Ge
planar defects
TEM
4
none
Frigeri, C; Attolini, G; Pelosi, C; Armigliato, A
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/119239
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