CNR Institutional Research Information System

Conductive atomic force microscopy and Scanning impedance microscopy for the imaging of electrical domain in CaCu3Ti4O12 perovskite oxide

Lo Nigro R;Fiorenza P;Raineri V
2010
2010
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
04.01 Contributo in Atti di convegno
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