CNR Institutional Research Information System

Conductive atomic force microscopy and Scanning impedance microscopy for the imaging of electrical domain in CaCu3Ti4O12 perovskite oxide

Lo Nigro R;Fiorenza P;Raineri V
2010
2010
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Mater. Res. Soc. Symp. Proc. Volume 1232E, Warrendale, PA, 2010), MRS Symposium Proceeding, Vol. 1232, 1232-OO07-01, 2010
Boston, USA
3
none
Lo Nigro, R; Fiorenza, P; Raineri, V
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/70163
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact