CNR Institutional Research Information System

Detailed DF-TEM and X-ray diffraction investigations of interfaces in MOVPE grown InGaP/GaAs heterojunctions

Frigeri C;Attolini G;Bosi M;Pelosi C;
2006
2006
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
InGaP/GaAs
Interface
Chemical composition
Electron beam methods
04.02 Abstract in Atti di convegno
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/98327
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact