CNR Institutional Research Information System

Detailed DF-TEM and X-ray diffraction investigations of interfaces in MOVPE grown InGaP/GaAs heterojunctions

Frigeri C;Attolini G;Bosi M;Pelosi C;
2006
2006
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
Inglese
abstract book
EXMATEC '06, 8th International Workshop on Expert Evaluation and Control of Compound Semiconductor Materials and Technologies
83
83
Sì, ma tipo non specificato
14-17 maggio 2006
Cádiz (E)
InGaP/GaAs
Interface
Chemical composition
Electron beam methods
4
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
none
274
04 Contributo in convegno::04.02 Abstract in Atti di convegno
Frigeri C.; Attolini G.; Bosi M.; Germini F.; Pelosi C.; Calicchio M.
04.02 Abstract in Atti di convegno
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