Structural Analysis of InGaP/GaAs Layers Grown by MOVPE

Pelosi C;Bosi M;Attolini G;Frigeri C
2006

2006
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
XXXV Congresso Nazionale della AIC (Associazione Italiana di Cristallografia)
Ferrara
none
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
Pelosi C.; Bosi M.; Attolini G.; Germini F.; Frigeri C.
275
04 Contributo in convegno::04.03 Poster in Atti di convegno
4
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