Defects in nanostructures with ripened InAs/GaAs quantum dots

Nasi L;Bocchi C;Gombia E;Mosca R;Frigeri P;Trevisi G;Seravalli L;Franchi S
2007

2007
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
12th International Conference on Defects-Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors (DRIPXII)
Berlin (D)
none
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
Nasi L.; Bocchi C.; Germini F. Prezioso M.; Gombia E.; Mosca R.; Frigeri P.; Trevisi G.; Seravalli L.; Franchi S.
275
04 Contributo in convegno::04.03 Poster in Atti di convegno
8
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