CNR Institutional Research Information System

Composition determination of the interlayer at the inverted interfaces in InGaP/GaAs heterojunctions

Frigeri C;Attolini G;Bosi M;Pelosi C;
2008
2008
Istituto dei Materiali per l'Elettronica ed il Magnetismo - IMEM
BIAMS 2008, 9th International Workshop on Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors
Toledo (E)
Characterization
III-V compounds
none
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
Frigeri, C; Attolini, G; Bosi, M; Pelosi, C; Germini, F
275
04 Contributo in convegno::04.03 Poster in Atti di convegno
5
04.03 Poster in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/99313
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