CNR Institutional Research Information System

Stress fields analysis in 3C-SiC free-standing microstructures by micro-Raman spectroscopy

Piluso N;Anzalone R;D'Arrigo G;La Via;
2012
2012
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
522
20
22
Sì, ma tipo non specificato
4
info:eu-repo/semantics/article
262
Piluso N;Anzalone R;Camarda M;Severino A;D'Arrigo G;La Via; F
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
01.01 Articolo in rivista
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/181835
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact