Impact of Morphological Features on the Dielectric Breakdown at SiO2/3C-SiC Interfaces
Roccaforte F;Giannazzo F;Fiorenza P;Raineri V
2010
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.