CNR Institutional Research Information System

Impact of Morphological Features on the Dielectric Breakdown at SiO2/3C-SiC Interfaces

Roccaforte F;Giannazzo F;Fiorenza P;Raineri V
2010
2010
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
47
50
Sì, ma tipo non specificato
8
info:eu-repo/semantics/article
262
Eriksson, J; Roccaforte, F; Weng, Mh; Lorenzzi, J; Jegenyes, N; Giannazzo, F; Fiorenza, P; Raineri, V
01 Contributo su Rivista::01.01 Articolo in rivista
none
01.01 Articolo in rivista
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/432121
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
  • ???jsp.display-item.citation.isi??? ND
social impact