CNR Institutional Research Information System

Evolution of the electrical characteristics of Pt/3C-SiC Schottky contacts upon thermal annealing

Roccaforte F;Giannazzo F;Lo Nigro R;Raineri V
2010
2010
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
2010 Wide bandgap cubic semiconductors: from growth to devices Book Series: AIP Conference Proceedings, Vol: 1292 Pages: 75-78, 2010
4
none
Eriksson J; Roccaforte F; Reshanov S; Giannazzo F; Lo Nigro R; Raineri V
273
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04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/70164
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