CNR Institutional Research Information System

[object Object]

Nanoscale reliability aspects of insulator onto wide band gap compounds

P Fiorenza;M Vivona;F Giannazzo;R Lo Nigro;F Roccaforte
2014

Abstract

[object Object]
2014
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Conductive Atomic Force Microscopy
GaN
Scanning Capacitance Microscopy
Scanning Probe Microscopy
SiC
04.01 Contributo in Atti di convegno
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