CNR Institutional Research Information System

[object Object]

Nanoscale reliability aspects of insulator onto wide band gap compounds

P Fiorenza;M Vivona;F Giannazzo;R Lo Nigro;F Roccaforte
2014

Abstract

[object Object]
2014
Istituto per la Microelettronica e Microsistemi - IMM
Inglese
Proc. of 9th IEEE Nanotechnology Materials and Devices Conference (IEEE-NMDC)
9th IEEE Nanotechnology Materials and Devices Conference (IEEE-NMDC)
62
65
http://www.scopus.com/inward/record.url?eid=2-s2.0-84921269438&partnerID=q2rCbXpz
V. Privitera and M.G. Grimaldi
Catania
ITALIA
Sì, ma tipo non specificato
12-15 October , 2014
Aci Castello (Italy)
Conductive Atomic Force Microscopy
GaN
Scanning Capacitance Microscopy
Scanning Probe Microscopy
SiC
2-s2.0-84921269438
5
none
P. Fiorenza; G. Greco; M. Vivona; F. Giannazzo; R. Lo Nigro; F. Roccaforte
273
info:eu-repo/semantics/conferenceObject
04 Contributo in convegno::04.01 Contributo in Atti di convegno
04.01 Contributo in Atti di convegno
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/20.500.14243/287364
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